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MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀

產(chǎn)品時(shí)間:2024-07-03

簡要描述:

德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
  所有型號均可配所有探頭;
  可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
  可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

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   德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀

 

 

EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征:

型號1100210031004100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))111099
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值) 1 500
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) 1  
數(shù)據(jù)總量 100001000010000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar 
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar  
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)    
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值  
顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間 
其他功能
設(shè)置極限值  
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識(shí)別最大最小值  
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)  
連續(xù)測量模式中顯示最小值  

 

德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀可選探頭參數(shù)

  所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
  N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
  FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

 

  F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
  N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
  CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭

 

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
FN2
0~2000μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(O.1μm)
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(O.1μm)
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
 F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 F2/90
0~2000μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
 F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等
 F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等
 F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
 N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
 N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N2
0~2000μm,φ5mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
 N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N2/90
0~2000μm,φ5mm
磁性測頭, 尤其適合在管內(nèi)壁測量
 N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

 

 

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