到現(xiàn)今為止，市面上易高涂層測厚儀無損檢測技術(shù)已成為加工工業(yè)為用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測和保證產(chǎn)品達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的*手段。測厚儀大致有以下三種：應(yīng)用磁性測量法、渦流測量法以及超聲波測量法的三類測厚儀。
易高涂層測厚儀適用于各種板材和各種加工零件的測量，也可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器在使用過程中受腐蝕后的減薄程度進(jìn)行監(jiān)測。
磁性測量原理測厚儀又可分為磁吸力原理測厚儀和磁感應(yīng)原理測厚儀兩種，渦流測量原理測厚儀則只有電渦流測厚儀一種。
磁吸力原理測厚儀是利用磁鐵測頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系來測量覆層的厚度的，這個距離就是覆層的厚度，所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可以進(jìn)行測量。
磁感應(yīng)原理測厚儀是利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測頭被放在被測物上后，儀器自動輸出測試電流，磁通的大小影響到感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。
易高涂層測厚儀是利用高頻交流電在作為測頭的線圈中產(chǎn)生一個電磁場，將探頭靠近導(dǎo)電的金屬體時，就在金屬材料中形成渦流，這個渦流隨著與金屬體的距離減小而增大，并且會影響探頭線圈的磁通，此反饋作用量就是表示探頭與基體金屬之間間距大小的一個量值。
電渦流法測頭用在非鐵磁金屬基體上測量覆層厚度，所以通常我們稱該測頭為非磁性測頭。與磁性測量原理比較，它們的電原理基本一樣，主要區(qū)別是測頭不同，測試電流的頻率大小不同，信號大小、標(biāo)度關(guān)系不同。在近兩年的測厚儀中，通過不斷改進(jìn)測頭結(jié)構(gòu)，再配合微電腦技術(shù)，由自動識別不同測頭來調(diào)用不同的控制程序，分別輸出不同的測試電流和改變標(biāo)度變換軟件，終于使兩種不同類型的測頭接在同一臺測厚儀上，基于同一思想，可配接達(dá)10種測頭的測厚儀也應(yīng)運(yùn)而生。
易高涂層測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
雖然幾種測厚儀在校準(zhǔn)中測量點和標(biāo)準(zhǔn)材料的選擇上有很多不同，但在操作中都有一些相同的需要注意的地方，如每種測厚儀對基體的表面曲率和小厚度都有一個下限的規(guī)定，在實際校準(zhǔn)中應(yīng)選擇尺寸合理的基體進(jìn)行操作；測量中測頭的取向和壓力也會對結(jié)果有影響，要保持測頭與基體的垂直、壓力恒定并盡可能??；另外，校準(zhǔn)覆層測厚儀時還要注意外界磁場和基體剩磁的干擾，校準(zhǔn)超聲波測厚儀時要注意溫度變化和耦合劑粘度的影響。
易高涂層測厚儀主要是利用電磁場在不同厚度的介質(zhì)上的磁場強(qiáng)度的改變，而計算出其厚度值。因此，任何對磁場強(qiáng)度的影響都會直接導(dǎo)致測量誤差，具體情況有以下幾種：
1、被測材料自身含磁
有些材料在加工過程中或一定工藝要求，使被測材料內(nèi)有剩余磁場。由于其分布不均，所以導(dǎo)致的測量誤差也不一致，會出現(xiàn)在同一工件上某些部位的測量值突然變大或變小。
2、被測材料結(jié)構(gòu)不同，形狀不同
在不同結(jié)構(gòu)的工件上，磁場分布會隨著結(jié)構(gòu)、形狀不同而不同，會產(chǎn)生測量誤差。
3、同一材料的不同部位，也可能產(chǎn)生磁場的變化，如材料的邊緣與中間區(qū)域，其磁場分布不一樣，會產(chǎn)生測量誤差。
4、被測材料的性質(zhì)不同，其磁通量就會不同，這也是產(chǎn)生誤差原因之一。
5、材料的大小、厚度不同，也可以導(dǎo)致測量誤差。
6、易高涂層測厚儀被測材料表面不夠光滑，也是產(chǎn)生誤差的原因。
